美國AMETEK ametek液位計AMETEK-DREXELBROOK是美國ametek集團公司的子公司52家之一。 ametec位于美國賓夕法尼亞州，是世界著名的儲物柜，是一家液位儀表制造商。 四十多年不懈的努力使我們的產品舉世聞名。 AMETEK-DREXELBROOK的產品廣泛應用于石油、化工、電力、水利、食品、醫藥、造紙、采礦、汽車等多個行業。 AMETEK-DREXELBROOK的威望獨特地集工業應用技術、創新的產品設計和多種測量技術于一體。 AMETEK-DREXELBROOK公司不斷拓展和發展射頻導納液位裝置，提供高水平的超聲波式、磁致伸縮式、靜壓式、雷達式和波導雷達式液位裝置，全面的產品系列使AMETEK-DREXELBROOK能夠為客戶提供良好的液位和流量測量方案。 zui的基本工業應用領域和zui的復雜應用領域。 AMETEK-DREXELBROOK在電力工業中的典型應用是:控制給水加熱器的水位，控制低壓鍋爐的液位，控制噴砂器，監測體積和石灰漿混合物，控制沉淀器漏斗，監測煤粉，監測酸液體積，維持燃料體積，監測水輪機潤滑油中的含水率， 控制冷卻水的水位，檢測滑道中的塞子， 監視粉塵倉庫漏氣容器美國美國分析儀的詳細ametek ametek發生器305010901SAMETEK氧化鋯傳感器71785SEAMETEK濾波器71849SEAMETEK透鏡CH13-0007-tAMETEK電路板13-0307AMETEK鉑電阻13 鎓管AMETEK71785SEA METEK比率分析儀測量池880324901AMETEK比率分析儀檢查基板880020901AMETEK棒糖比率分析儀組件200880001AMETEK269323011AMETEK棒糖溫度控制器269323011AMETEK etek ametek 74422 se ametek射頻波導納米級計UP010620B1AMETEK鎘燈300-2070AMETEK氧化鋯頭71063 se ametek ametek濾波單元100-1848 ametek ametek濾波器 六氧化鋯WDG1210/ Insitu 72"AMETEK美工藝露點計3050AMETEK美工藝氣體分析儀Thermox-CMFA-P2000AMETEK美工藝500124901AMETEK美工藝硫比率計光源880107902S美工藝硫比率計光源觸發器880118901AMETEK美工藝 0ka 238 ametek ametek壓力模塊APM 002 c ametek ametek過濾器74422 se ametek ametek儲存箱880060901SAMETEK H2S分析儀H2S分析儀933-光源鎘燈-300-2070H2S分析儀933-中空陰影 ek ametek馬達119153- 54 ametek馬達electronicallyprotectedl 240 v 50/60hz 10.u.s，patent # 6，756，713 ametek 356010，pressure gauge/4 "×4 "~100p sis gauge ametek ametek ametek ametek冷鏡式水露點分析儀13-1200-l-n-2 ametek ametek ametek濾波器74422 se ametek ametek 305400901 s ametek ametek超聲波水平 rull煙氣分析儀cmfa-p2000AMETEK atec氧量分析儀|WDG1210|Insitu-72|AMETEK氣體分析儀cmfa-p 2000 ametek可燃性氣體分析儀用顯示模塊90219VEAMETEK氧分析儀用取樣棒70049SEAMETEK電源 鍵盤模塊90253VEAMETEK WDG1210/ lnsitu-36"AMETEK濾波器72346SEAMETEK前端帶169JEAMETEK后端帶010 je ametek atec 200886002 ametek atec 880020901 ametek atec鉑電阻13-0236AMETEK k ametec鏡頭CH13-0007 -tAMETEK濾波器71849SEAMETEK氧化鋯傳感器71785SE美國933硫化氫分析儀銅燈300-8707鎘燈300-2070AMETEK熱電偶SC4326-NR-FC美國天然氣露點計13 - Point Testers-冷鏡式露點計) (-30 to 110°F)AMETEK濕氣發生器305010901SAMETEK干燥器305400901S\ 3050-OLVAMETEK氧化鋯頭71063SEAMETEK采樣濾波器71072SEAMETEK氧化鋯室70597 se atec露點計13-1210-C-N-2AMETEK濕氣發生器305010901SA METEK濕氣發生器3054 00901SAMETEK氧化鋯傳感器71785SEAMETEK濾波器71849SEAMETEK透鏡CH13-0007-tAMETEK電路板13-0307AMETEK白金測溫電阻體13-0236 ametek 880020901 ametek 200886002 1662 ametec在線分析儀表元件3050水分析儀檢測管305431901 s ametec 71862 seametekfirehornfirehorn\nt2- 24 d \φ100\ametekfirehorn，TYPE:NT2-24D，voltage rating 100mm，explosion-proof class:classiiametek微水表電解池303372908sAMETEK干燥模式3050-OLV干燥部件號305400901S\ 3050-OLVAMETEK 95384WE氧量分析儀毫伏特代碼ametek型號388-11032序列號: p-2087 atec主機P/N:13-1200-C-N-2附件: p/n:chp-0535 atec p/n:chp-0536 atec n:ch13-0054 atec p/n:chc 08435 atec p / n:ch13-2277 atec融合指數測定器MFI-10 atec堿性玻璃窗2008887001 atec襯墊8800452525252525252535253525352535253525352535253525352535253525352535252535252535253535353535353 5353535353535353535353535353535353535353535353535353535353535353535353535353535353535353535353535353535353535353 n:100.0515 atec p/n N:305110901S性能P/N:305449901S性能P/n:305400901性能P/N:300.9147性能P/N:305900901性能P/N:3051229035性能p/ N:305648901性能p N:305644901美容卡車P/N:3054319015美容卡車P/N:100.1662美容卡車P/N:100.1771美容卡車P/N:100.1578美容卡車P/N:301.1078美容卡車P/ N:100.1848特別工作:美容卡車P/N:300.4511美容卡車 n:300.4753535353951136美國P/N:300.5728美國o形圈( H2S在線分析器) p/ n:300.25352535253525352535253525352535253525352535253535253卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡卡 PN305400901S\3050-SLR用美國濕氣發生器\305010901S\ - ja atec電路板型號pn 100-1662 atec在線分析儀器部件3050水分析儀檢測管305431901 s atec保險絲( H2S在線分析儀)1A，300-9244 atec保險絲( H2S在線分析儀)6.3A，300-6291美國 采用光電測量技術，檢測露出層，測量結露時的溫度，美國美洲尖端探頭冷鏡式露點儀直接顯示露點。 鏡面冷凍的方法有半導體冷凍、液氮冷凍、高壓空氣冷凍。 鏡面式露點計采用直接測量方法，以精密測量正確的曝光、鏡面冷凍率、結露溫度為前提，此類露點計可作為標準露點計使用。 目前國際上zui的高精度達到±的0.1℃(露點溫度)，一般精度為±； 0.5℃以內的電傳感器式曝光美國地下鋯探針點以親水性材料或疏水性材料為介質，構成電容器或電阻，含有水分的氣體流動時，介電常數或電導率發生變化，測定此時的電容值或電阻值時，可知此時的氣體的水分含量 構建了露點單位系統設計的這種傳感器，構成了電傳感器式露點分析儀。 目前，國際上zui的高精度達到了±的1.0℃(露點溫度)，一般精度為±； 3℃以內。 美國ametek atec氧化鋯探針電解法露點計利用吸濕五氧化二磷等材料分解成極性分子、電極蓄積電荷的特性，設計了含水量單位系統中設置的電解法微水分計。 石英振動式露點計可利用石英潤濕后振蕩頻率變化的特性，設計石英振動式露點計。 這是比較新的技術，還處于不成熟的階段。 國外有相關產品，但精度差，成本高。 美國ametek atec氧化鋯探針紅外露點儀利用氣體中水分被紅外光譜吸收的特性，可以設計紅外式露點儀。 該裝置難以測量低露點，主要是紅外檢測器峰值檢測率未達到微量水吸收水平，氣體中其他成分的含量對紅外光譜吸收有影響。 但這是一項很新的技術，對環境氣體水分含量的非接觸式在線監測具有重要意義。 美國ametek atec氧化鋯探針的半導體傳感器每個水分子都有自然振動頻率，一進入半導體晶格的空隙，就與充電激勵的晶格諧振，其諧振頻率與水的摩爾數成正比。 水分子的共振使自由電子從半導體結中釋放出來，從而增大晶格的電導率，減小阻抗。 利用該特性設計的半導體露點計可測量-100℃露點的微量水分。 美國AMETEK金屬氧化鋯探針美國AMETEK金屬氧化鋯探針scanningviratingelectrodetechnique ( svet )掃描振動電極測試Scanning Kelvin Probe (SKP ) 開爾文探針檢測locallizedelectrochemicalimpedancespectroscopy ( leis )微區電化學阻抗檢測Scanning Droplet Cell (SDC ) 掃描電解液微滴檢測non-contactsurfaceprofiling ( OSP )非接觸光學微區的形態測試上述各技術使用不同的測量探針，設置位置與樣品非常接近，但不與樣品接觸。 隨著探針檢查的進行，改變探針的空間位置。 然后，在探測位置繪制被記錄的數據，對于不同的技術，該圖可以表示微區的電化學電流、阻抗、相對功函數或者表面形貌圖。 美國AMETEK金屬氧化鋯探針的應用:不銹鋼和鋁等材料的點蝕檢測、生長過程的在線監測等有機和金屬的涂層缺陷和完整性研究金屬/ 有機涂層界面腐蝕機理和檢測有機涂層剝離和脫落機理模擬經鈍化處理的不銹鋼焊接熱影響區電位分布干濕循環的碳鋼和不銹鋼陰極區和陽極區分布行為薄液層的氧還原反應和金屬腐蝕過程特征不同大氣環境的腐蝕電位的在線電機 監測鋁合金等材料在大氣環境中局部具有腐蝕敏感性的鋁合金絲狀腐蝕( filiform corrosion )硅烷L-B膜修飾金屬表面的結構和穩定性； 鋅鐵耦合金屬界面區域的電位分布特性磷化處理鋅表面的碳微粒污染檢查； 研究評價檢測微小金屬表面應力分布和應力腐蝕裂紋的金屬和半導體材料微小區域的表面清潔度、缺陷、損傷和均勻度的氣相緩蝕劑的性能

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